Le SEM-EDS combine la microscopie électronique et l'analyse par rayons X pour cartographier en détail la structure et la composition chimique des particules. Cette méthode est utilisée pour analyser les dommages inconnus et les particules d'usure au niveau nanométrique.
L'échantillon est examiné au microscope électronique et l'EDS enregistre les éléments présents en chaque point.
Le client reçoit des données extrêmement précises sur les causes des dommages et les défauts matériels, idéalement dans le cadre d'analyses des causes profondes.