SEM-EDS kombinerer elektronmikroskopi og røntgenanalyse for å kartlegge partikkelstruktur og kjemisk sammensetning i detalj. Denne metoden brukes til å analysere ukjente skader og slitasjepartikler på nanonivå.
Prøven undersøkes med elektronmikroskop, og EDS registrerer hvilke grunnstoffer som finnes i hvert punkt.
Kunden får ekstremt nøyaktige data om skadeårsaker og materialfeil – ideelt i rotårsaksanalyser.