La fluorescencia de rayos X (XRF) se usa para identificar elementos en muestras que no pueden analizarse mediante el análisis elemental tradicional, por ejemplo, depósitos sólidos o partículas.
La muestra se irradia con rayos X y el sistema de detección registra qué elementos emiten una radiación característica.
El resultado proporciona al cliente información sobre la composición del material en partículas desconocidas, por ejemplo, si una pieza de metal proviene de un rodamiento, un engranaje o una junta.