La fluorescence X (XRF) est utilisée pour identifier les éléments dans des échantillons qui ne peuvent pas être analysés par l'analyse élémentaire traditionnelle, tels que les dépôts solides ou les particules.
L'échantillon est irradié aux rayons X, et le système de détection enregistre quels éléments émettent un rayonnement caractéristique.
Le résultat fournit au client des informations sur la composition matérielle de particules inconnues – par exemple, si un morceau de métal provient d'un roulement, d'un engrenage ou d'un joint.