La fluorescence X (XRF) est utilisée pour identifier des éléments dans des échantillons qui ne peuvent pas être analysés par analyse élémentaire traditionnelle, par exemple des dépôts solides ou des particules.
L'échantillon est irradié aux rayons X et le système de détection enregistre les éléments qui émettent un rayonnement caractéristique.
Le résultat fournit au client des informations sur la composition du matériau en particules inconnues, par exemple, si une pièce métallique provient d'un roulement, d'un engrenage ou d'un joint.