A fluorescência de raios X (XRF) é usada para identificar elementos em amostras que não podem ser analisados pela análise elementar tradicional, por exemplo, depósitos sólidos ou partículas.
A amostra é irradiada com raios-X e o sistema de detecção registra quais elementos emitem radiação característica.
O resultado fornece ao cliente informações sobre a composição do material em partículas desconhecidas — por exemplo, se uma peça de metal se origina de um rolamento, engrenagem ou junta.