A fluorescência de raios X (XRF) é utilizada para identificar elementos em amostras que não podem ser analisadas com a análise elementar tradicional, como depósitos sólidos ou partículas.
A amostra é irradiada com raios X, e o sistema de deteção regista quais os elementos que emitem radiação característica.
O resultado fornece ao cliente informações sobre a composição do material de partículas desconhecidas – por exemplo, se um pedaço de metal provém de um rolamento, de uma engrenagem ou de uma junta.