La technique SEM-EDS combine la microscopie électronique et l'analyse par rayons X pour cartographier en détail la structure et la composition chimique des particules. Cette méthode est utilisée pour analyser des particules d'usure et de dommages inconnues à l'échelle nanométrique.
L'échantillon est examiné au microscope électronique, et l'analyse EDS enregistre les éléments présents en chaque point.
Le client reçoit des données extrêmement précises sur les causes des dommages et les défauts des matériaux – idéal pour les analyses des causes profondes.