O SEM-EDS combina microscopia eletrônica e análise de raios-X para mapear a estrutura das partículas e a composição química em detalhes. Esse método é usado para analisar danos desconhecidos e partículas de desgaste no nível nano.
A amostra é examinada com um microscópio eletrônico e o EDS registra quais elementos estão presentes em cada ponto.
O cliente recebe dados extremamente precisos sobre as causas dos danos e defeitos do material, idealmente em análises de causa raiz.