A técnica SEM-EDS combina a microscopia eletrónica e a análise de raios X para mapear detalhadamente a estrutura e a composição química das partículas. Este método é utilizado para analisar partículas de desgaste e danos desconhecidos à escala nanométrica.
A amostra é examinada com um microscópio eletrónico, e a EDS regista quais os elementos presentes em cada ponto.
O cliente recebe dados extremamente precisos sobre as causas dos danos e defeitos dos materiais – ideais para análises de causa raiz.