SEM-EDS kombiniert Elektronenmikroskopie und Röntgenanalyse, um Partikelstruktur und chemische Zusammensetzung detailliert abzubilden. Diese Methode wird verwendet, um unbekannte Schädigungs- und Verschleißpartikel auf Nanoebene zu analysieren.
Die Probe wird mit einem Elektronenmikroskop untersucht, und das EDS zeichnet auf, welche Elemente an jedem Punkt vorhanden sind.
Der Kunde erhält extrem genaue Daten zu Schadensursachen und Materialdefekten — idealerweise in Ursachenanalysen.