SEM-EDS kombiniert Elektronenmikroskopie und Röntgenanalyse, um die Partikelstruktur und chemische Zusammensetzung detailliert abzubilden. Diese Methode wird zur Analyse unbekannter Schädigungs- und Verschleißpartikel im Nanobereich eingesetzt.
Die Probe wird mit einem Elektronenmikroskop untersucht, und die EDS-Analyse erfasst, welche Elemente an jedem Punkt vorhanden sind.
Der Kunde erhält äußerst genaue Daten über Schadensursachen und Materialfehler – ideal für Ursachenanalysen.