La microscopía electrónica SEM-EDS combina el análisis de rayos X y la microscopía electrónica para mapear la estructura y la composición química de las partículas en detalle. Este método se utiliza para analizar partículas desconocidas de daño y desgaste a escala nanométrica.
La muestra se examina con un microscopio electrónico y el EDS registra qué elementos están presentes en cada punto.
El cliente recibe datos extremadamente precisos sobre las causas de los daños y los defectos del material: ideal para el análisis de causa raíz.