El SEM-EDS combina la microscopía electrónica y el análisis de rayos X para mapear en detalle la estructura de las partículas y la composición química. Este método se utiliza para analizar los daños desconocidos y las partículas de desgaste a nivel nanométrico.
La muestra se examina con un microscopio electrónico y el EDS registra qué elementos están presentes en cada punto.
El cliente recibe datos extremadamente precisos sobre las causas de los daños y los defectos del material, idealmente en los análisis de las causas fundamentales.